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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

上海禹重實(shí)業(yè)有限公司


  • ELEMENT GD PLUS輝光質(zhì)譜儀

    詳細(xì)摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-08-13 在線留言

  • LECO GDS900輝光質(zhì)譜儀

    詳細(xì)摘要： 輝光放電光譜檢測方法利用低壓，通過氬離子束對樣品表面均勻?yàn)R射物質(zhì)的非熱能處理技術(shù)。濺射出的物質(zhì)離開樣品表面隨后被原子化并在低壓等離子放電區(qū)域被激發(fā)。LECO G...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-08-13 在線留言

  • JXA-8230 電子探針顯微分析儀

    詳細(xì)摘要： 日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-05-28 在線留言

  • 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀

    詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-05-23 在線留言

  • 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀

    詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-05-23 在線留言

  • PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針

    詳細(xì)摘要： PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復(fù)合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設(shè)備。維...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-05-15 在線留言

  • PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀

    詳細(xì)摘要： PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...

    產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-02 在線留言

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